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晶體是由大量微觀物質(zhì)單位（原子、離子、分子等）按一定規(guī)則有序排列的結(jié)構(gòu)，因此可以從結(jié)構(gòu)單位的大小來研究判斷排列規(guī)則和晶體形態(tài)。復(fù)達(dá)檢測是專門做第三方檢測的機(jī)構(gòu)，可將客戶提供的樣品進(jìn)行各項(xiàng)成分檢測、配方分析，晶體檢測可選復(fù)達(dá)。接下來小編為您介紹晶體全成分檢測范圍和標(biāo)準(zhǔn)~

晶體檢測標(biāo)準(zhǔn)（部分）

1、GB/T 1554-2009 硅晶體完整性化學(xué)擇優(yōu)腐蝕檢驗(yàn)

2、GB/T 1557-2018 硅晶體中間隙氧含量的紅外吸收測量

3、GB/T 3351-1982 人造石英晶體的型號(hào)命名

4、GB/T 3352-2012 人造石英晶體 規(guī)范與使用指南

5、GB/T 4586-1994 半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分:場效應(yīng)晶體管

6、GB/T 6495.11-2016 光伏器件 第11部分：晶體硅太陽電池初始光致衰減測試

7、GB/T 7895-2008 人造光學(xué)石英晶體

8、GB/T 7896-2008 人造光學(xué)石英晶體試驗(yàn)

9、GB/T 8756-1988 鍺晶體缺陷圖譜

10、GB/T 11297.12-2012 光學(xué)晶體消光比的測量

11、GB/T 11312-1989 壓電陶瓷材料和壓電晶體聲表面波性能測試

12、GB/T 12633-1990 壓電晶體性能測試

13、GB/T 12634-1990 壓電晶體電彈常數(shù)測試

14、GB/T 14077-1993 雙折射晶體和偏振器件測試規(guī)范

15、GB/T 14142-2017 硅外延層晶體完整性檢驗(yàn)

16、GB/T 14144-2009 硅晶體中間隙氧含量徑向變化測量

17、GB/T 16822-1997 介電晶體介電性能的試驗(yàn)

18、GB/T 16863-1997 晶體折射率的試驗(yàn)

19、GB/T 16864-1997 低溫下晶體透射率的試驗(yàn)

20、GB/T 20724-2006 薄晶體厚度的會(huì)聚束電子衍射測定

21、GB/T 31034-2014 晶體硅太陽電池組件用絕緣背板

22、GB/T 31958-2015 薄膜晶體管液晶顯示器用基板玻璃

23、GB/T 36289.1-2018 晶體硅太陽電池組件用絕緣薄膜 第1部分：聚酯薄膜

24、GB/T 36289.2-2018 晶體硅太陽電池組件用絕緣薄膜 第2部分：氟塑料薄膜

25、GB/T 36655-2018 電子封裝用球形二氧化硅微粉中α態(tài)晶體二氧化硅含量的測試

26、GB/T 37051-2018  太陽能級(jí)多晶硅錠、硅片晶體缺陷密度測定

27、GB/T 37240-2018 晶體硅光伏組件蓋板玻璃透光性能測試評(píng)價(jià)

28、GB/T 37398-2019 氟化鋇閃爍晶體

晶體檢測范圍

人工晶體、石英晶體、納米晶體、粉煤灰晶體、高分子材料晶體、硅晶體等。

晶體檢測項(xiàng)目

結(jié)構(gòu)檢測、化學(xué)成分檢測、機(jī)械性能檢測、折射率檢測、材料腐蝕試驗(yàn)、透射率檢測、熔點(diǎn)檢測等。

晶體檢測流程

1、溝通需求：了解待檢測項(xiàng)目，確定檢測范圍；

2、報(bào)價(jià)：根據(jù)檢測項(xiàng)目及檢測需求進(jìn)行報(bào)價(jià)；

3、簽約：簽訂合同及保密協(xié)議，開始檢測；

4、完成檢測：檢測周期會(huì)根據(jù)樣品及其檢測項(xiàng)目/方法會(huì)有所變動(dòng)，具體可咨詢檢測顧問；

5、出具檢測報(bào)告，進(jìn)行后期服務(wù)；

以上是“晶體檢測及標(biāo)準(zhǔn)”相關(guān)內(nèi)容，復(fù)達(dá)檢測將會(huì)為您提供完備的晶體檢測方案，更多關(guān)于晶體檢測問題可咨詢實(shí)驗(yàn)室工程師幫您解答。想要了解其他檢測項(xiàng)目，請(qǐng)關(guān)注材料檢測頻道~