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硅片檢測機(jī)構(gòu),硅片檢測費用是多少?

硅片,是制作集成電路的重要材料,通過對硅片進(jìn)行光刻、離子注入等手段,可以制成各種半導(dǎo)體器件。 用硅片制成的芯片有著驚人的運算能力。硅片檢測多少錢?硅片檢測機(jī)構(gòu)哪家好?復(fù)達(dá)檢測中心可為您提供硅片檢測相關(guān)服務(wù)。


硅片檢測標(biāo)準(zhǔn)(部分)


1、GB/T 40110-2021 表面化學(xué)分析 全反射X射線熒光光譜法(TXRF)測定硅片表面元素污染


2、GB/T 39145-2020 硅片表面金屬元素含量的測定 電感耦合等離子體質(zhì)譜法


3、GB/T 29055-2019 太陽能電池用多晶硅片


4、GB/T 37051-2018 太陽能級多晶硅錠、硅片晶體缺陷密度測定方法


5、GB/T 34479-2017 硅片字母數(shù)字標(biāo)志規(guī)范


6、GB/T 32280-2015 硅片翹曲度測試 自動非接觸掃描法


7、GB/T 30860-2014 太陽能電池用硅片表面粗糙度及切割線痕測試方法


8、GB/T 30859-2014 太陽能電池用硅片翹曲度和波紋度測試方法


9、GB/T 30869-2014 太陽能電池用硅片厚度及總厚度變化測試方法


10、GB/T 30701-2014 表面化學(xué)分析 硅片工作標(biāo)準(zhǔn)樣品表面元素的化學(xué)收集方法和全反射X射線熒光光譜法(TXRF)測定


11、GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及總厚度變化測試 自動非接觸掃描法


12、GB/T 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度測量方法


13、GB/T 26068-2010 硅片載流子復(fù)合壽命的無接觸微波反射光電導(dǎo)衰減測試方法


14、GB/T 26067-2010 硅片切口尺寸測試方法


15、GB/T 6617-2009 硅片電阻率測定 擴(kuò)展電阻探針法


硅片檢測范圍


單晶硅片、太陽能硅片、多晶硅片、半導(dǎo)體硅片等。


硅片檢測項目


質(zhì)量檢測、厚度檢測、隱裂檢測、工業(yè)問題診斷、表面有機(jī)物檢測、電阻率檢測、壓阻系數(shù)、表面粗糙度檢測、反射率檢測、翹曲度檢測、微量元素檢測、碳氧含量檢測、結(jié)晶度檢測等。


硅片檢測流程


1、溝通需求:了解待檢測項目,確定檢測范圍;


2、報價:根據(jù)檢測項目及檢測需求進(jìn)行報價;


3、簽約:簽訂合同及保密協(xié)議,開始檢測;


4、完成檢測:檢測周期會根據(jù)樣品及其檢測項目/方法會有所變動,具體可咨詢檢測顧問;


5、出具檢測報告,進(jìn)行后期服務(wù);


以上是有關(guān)硅片檢測的相關(guān)介紹,如有其他檢測需求可以咨詢實驗室工程師幫您解答。