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硅片,是制作集成電路的重要材料,通過對硅片進行光刻、離子注入等手段,可以制成各種半導體器件。 用硅片制成的芯片有著驚人的運算能力。硅片檢測多少錢？硅片檢測機構哪家好？復達檢測中心可為您提供硅片檢測相關服務。

硅片檢測標準（部分）

1、GB/T 40110-2021 表面化學分析 全反射X射線熒光光譜法（TXRF）測定硅片表面元素污染

2、GB/T 39145-2020 硅片表面金屬元素含量的測定 電感耦合等離子體質譜法

3、GB/T 29055-2019 太陽能電池用多晶硅片

4、GB/T 37051-2018 太陽能級多晶硅錠、硅片晶體缺陷密度測定方法

5、GB/T 34479-2017 硅片字母數字標志規范

6、GB/T 32280-2015 硅片翹曲度測試 自動非接觸掃描法

7、GB/T 30860-2014 太陽能電池用硅片表面粗糙度及切割線痕測試方法

8、GB/T 30859-2014 太陽能電池用硅片翹曲度和波紋度測試方法

9、GB/T 30869-2014 太陽能電池用硅片厚度及總厚度變化測試方法

10、GB/T 30701-2014 表面化學分析 硅片工作標準樣品表面元素的化學收集方法和全反射X射線熒光光譜法(TXRF)測定

11、GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及總厚度變化測試 自動非接觸掃描法

12、GB/T 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度測量方法

13、GB/T 26068-2010 硅片載流子復合壽命的無接觸微波反射光電導衰減測試方法

14、GB/T 26067-2010 硅片切口尺寸測試方法

15、GB/T 6617-2009 硅片電阻率測定 擴展電阻探針法

硅片檢測范圍

單晶硅片、太陽能硅片、多晶硅片、半導體硅片等。

硅片檢測項目

質量檢測、厚度檢測、隱裂檢測、工業問題診斷、表面有機物檢測、電阻率檢測、壓阻系數、表面粗糙度檢測、反射率檢測、翹曲度檢測、微量元素檢測、碳氧含量檢測、結晶度檢測等。

硅片檢測流程

1、溝通需求：了解待檢測項目，確定檢測范圍；

2、報價：根據檢測項目及檢測需求進行報價；

3、簽約：簽訂合同及保密協議，開始檢測；

4、完成檢測：檢測周期會根據樣品及其檢測項目/方法會有所變動，具體可咨詢檢測顧問；

5、出具檢測報告，進行后期服務；

以上是有關硅片檢測的相關介紹，如有其他檢測需求可以咨詢實驗室工程師幫您解答。