光學(xué)全息材料熱導(dǎo)率檢測,熱膨脹系數(shù)
光學(xué)全息材料是一種能夠記錄和再現(xiàn)物體光波信息的材料,它利用光的全部信息(包括振幅、相位)進(jìn)行記錄,并在其他地方重新復(fù)現(xiàn)(構(gòu)建)出來。這種技術(shù)通過使用感光材料記錄物體光波和參考光波的干涉圖樣,在一定的條件下,利用光的衍射現(xiàn)象,通過參考光波照射干涉圖樣重建出原物體光波。
生物材料、聚合物材料、液晶材料、光電材料、金屬材料、非金屬材料、半導(dǎo)體材料、納米材料、超導(dǎo)材料、陶瓷材料等。
表面形貌、厚度、形變、應(yīng)力、缺陷、晶體結(jié)構(gòu)、儲氫性能、磁滯回線、電阻率、擊穿場強、光致發(fā)光、熱傳導(dǎo)系數(shù)、相變、光電特性、光學(xué)散射、光學(xué)吸收、紅外光譜、拉曼光譜、電子顯微鏡成像、原子力顯微鏡成像、熱擴(kuò)散系數(shù)、磁性、光學(xué)性質(zhì)、光學(xué)畸變、光學(xué)相位、光學(xué)波前、熱膨脹系數(shù)、聲波特性、熱導(dǎo)率、熱膨脹系數(shù)、熱容量、硬度、彈性模量、粘附力等。
JIS Z8791-2011 全息圖的衍射率和相關(guān)光學(xué)特性的測量方法
GB/T 7962.3-2010 無色光學(xué)玻璃測試方法 第3部分:光學(xué)均勻性 全息干涉法
ISO 11695-1-2008 識別卡 光學(xué)記憶卡 全息記錄方法 第1部分:物理特性第一版
ISO 11695-3-2008 識別卡 光學(xué)記憶卡 全息記錄方法 第3部分:光屬性和特性第一版
ISO 11695-2-2008 識別卡 光學(xué)記憶卡 全息記錄方法 第2部分:尺寸和位置的訪問光區(qū)域的第一版
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1、為產(chǎn)品提供進(jìn)出口服務(wù)。
2、為相關(guān)的研究論文提供數(shù)據(jù)。
3、控制產(chǎn)品品質(zhì),降低產(chǎn)品成本。
4、根據(jù)檢測報告的數(shù)據(jù),改進(jìn)產(chǎn)品質(zhì)量。
5、協(xié)助公檢法部門對樣品質(zhì)量進(jìn)行檢測或成分化驗。
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